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中圖儀器NS系列柔性電子器件薄膜測量臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

微觀二維形貌輪廓臺階儀工作時，觸針沿被測表面輕輕滑過，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的情況。

NS系列探針式膜層厚度表面粗糙度臺階儀可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。樣品適應面廣，對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求，數(shù)據(jù)復現(xiàn)性高、測量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

中圖儀器NS系列臺階厚度儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在薄膜厚度的測量上具有很強的優(yōu)勢。

中圖儀器NS系列薄膜厚度臺階測量儀集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術，具備超高的測量精度和測量重復性。它主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。

NS系列接觸式臺階儀測膜厚儀超精密接觸式測量微觀輪廓，主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度，可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。